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Alta calidad, alto rendimiento, excelente servicio.
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En el panorama contemporáneo de la fotónica, la transición de los láseres tradicionales de gas y estado sólido a los sistemas de diodo directo no es una mera tendencia, sino un cambio fundamental en la eficiencia energética y la modularidad del sistema. En el centro de esta evolución se encuentra la chip semiconductor láser, una maravilla microscópica que sirve de motor principal para la generación de fotones. Sin embargo, el camino desde un chip de un solo emisor hasta una herramienta industrial de alta potencia implica una compleja ingeniería termodinámica y óptica. Entender la interacción entre el diodo láser multiemisor configuración y la integridad estructural de un pila de diodos láser es esencial para los ingenieros que pretenden minimizar el coste total de propiedad (TCO) al tiempo que maximizan diodo láser de alta luminosidad rendimiento.
El rendimiento de cualquier sistema láser de alta potencia está irrevocablemente limitado por la calidad de su crecimiento epitaxial. A chip semiconductor láser suele ser una estructura multicapa de semiconductores compuestos III-V (como GaAs o InP). La eficiencia de estos chips -a menudo medida como Wall-Plug Efficiency (WPE)- viene determinada por la precisión de las capas de pozos cuánticos (QW).
La física fundamental implica la inyección de electrones y huecos en una estrecha región activa. Para lograr una alta luminosidad, el chip debe mantener una alta densidad de portadores sin sucumbir a la recombinación no radiativa. Los chips modernos de alta potencia utilizan pozos cuánticos tensados para modificar la estructura de bandas, reduciendo la masa efectiva de huecos y disminuyendo la densidad de corriente de transparencia. Este detalle de ingeniería es lo que separa un chip estándar de una variante de alta potencia; esta última puede sostener densidades de corriente más altas antes de alcanzar el punto de inflexión causado por las fugas térmicas.
Uno de los principales modos de fallo en los diodos de alta potencia es la COD. En la faceta de salida del chip, el intenso campo óptico puede provocar un calentamiento localizado que estrecha la banda prohibida, aumenta la absorción y provoca un fallo térmico incontrolado. La fabricación avanzada implica la pasivación de las facetas y la creación de espejos no absorbentes (NAM). Para un fabricante, invertir en el proceso de pasivación a nivel de chip es la forma más eficaz de garantizar la longevidad de la eventual diodo láser pila.
Un solo emisor sólo puede producir una cantidad limitada de potencia (normalmente de 10 a 20 W en chips industriales de alta fiabilidad) antes de que la densidad térmica se vuelva inmanejable. Para alcanzar niveles de kilovatios, los ingenieros emplean un diodo láser multiemisor estrategia.
En una barra multiemisor, varios diodos láser se fabrican en un único sustrato y comparten un disipador térmico común. El problema es la “diafonía”, tanto térmica como eléctrica. Si los emisores están demasiado cerca, el calor de uno afecta a la longitud de onda y la eficiencia de su vecino. Si están demasiado separados, disminuye la luminosidad (potencia por unidad de superficie por unidad de ángulo sólido).
La luminosidad se define como:
$B = \frac{P}{A \cdot \mega}$
donde $P$ es la potencia, $A$ es el área emisora y $\Omega$ es el ángulo sólido de divergencia. En una configuración multiemisor, el “espacio muerto” entre emisores aumenta $A$ sin aumentar $P$, lo que inherentemente disminuye la luminosidad en comparación con un único emisor perfectamente enfocado. Por lo tanto, el objetivo de ingeniería en el diseño de diodos láser de alta luminosidad es minimizar el paso entre emisores, utilizando al mismo tiempo sofisticadas microópticas para reformatear el haz.
Cuando las necesidades de potencia superan lo que puede proporcionar una sola barra, éstas se apilan vertical u horizontalmente para formar un pila de diodos láser. Aquí es donde la transición de la física de los semiconductores a la ingeniería mecánica y térmica se hace crítica.
Una pila láser típica de 1 kW puede generar simultáneamente 1 kW de calor residual. La gestión de este flujo de calor es el mayor reto a la hora de diseñar una pila. Existen dos filosofías principales de refrigeración:
La interfaz entre la barra láser y el disipador de calor suele unirse mediante soldadura.
Para transformar la salida de un pila de diodos láser en un haz útil, acoplado a la fibra o enfocado, la óptica secundaria es obligatoria. Dado que la divergencia de un diodo es muy asimétrica (eje rápido frente a eje lento), la precisión es primordial.
El eje rápido suele tener una divergencia de 30-40 grados. Una microlente asférica debe alinearse con precisión submicrónica con la faceta emisora. Incluso un desajuste de 1 micra en una diodo láser multiemisor puede provocar una pérdida significativa de luminosidad en el enfoque final.
En las aplicaciones industriales de alta gama, los conformadores de haz “Step-Mirror” o “Internal Reflection” se utilizan para “cortar” el haz ancho y fino de una barra y apilar los segmentos verticalmente. Este proceso iguala el BPP en ambos ejes, lo que permite acoplar eficazmente la luz a una fibra óptica de pequeño diámetro.
Un escollo habitual para los integradores de sistemas es centrarse en el “dólar por vatio” del pila de diodos láser en lugar del “dólar por hora” del sistema operativo.
Si un chip semiconductor láser tiene un WPE 1% superior, la carga térmica del sistema de refrigeración disminuye considerablemente. Este efecto dominó reduce el tamaño del refrigerador necesario, disminuye el consumo eléctrico y, lo que es más importante, prolonga el tiempo medio entre fallos (MTBF). Al elegir una pila con construcción de soldadura dura (AuSn) y facetas pasivadas, un fabricante puede enfrentarse a un coste inicial 15% más elevado, pero conseguir una reducción de 50% en intervenciones de servicio de campo a lo largo de un ciclo de vida de cinco años.
Un fabricante líder de sistemas láser médicos (especializado en depilación y lipólisis no invasiva) estaba experimentando altas tasas de fallos en sus aplicadores portátiles. Las unidades se desplegaban con frecuencia en regiones con temperaturas ambiente elevadas (35 °C+), y los sistemas de refrigeración internos estaban llegando a su límite.
El actual 808nm pila de diodos láser estaba fallando debido a la fatiga térmica de la soldadura de indio. El efecto “sonrisa” hacía que la luz láser incidiera en la carcasa interna de la pieza de mano, lo que provocaba un sobrecalentamiento de los componentes de plástico y un suministro incoherente de energía al paciente.
Rediseñamos la fuente utilizando un diodo láser multiemisor basada en la tecnología de soldadura dura AuSn.
| Parámetro | Especificación previa | Especificación optimizada (propuesta) |
| Tecnología de chips | GaAs estándar | Chip pasivado NAM de alta potencia |
| Material de soldadura | Indio (blando) | AuSn (duro) |
| Método de refrigeración | Disipador térmico pasivo | Refrigeración por microcanales (MCC) |
| Paso del emisor | 500 μm | 400 μm (alta densidad) |
| “Tolerancia ”Sonrisa | < 2,0 μm | < 0,5 μm |
| WPE (Efecto Enchufe de Pared) | 48% | 59% |
Al cambiar a una pila de soldadura dura de alto brillo, el cliente redujo la tasa de fallos de su dispositivo portátil de 4,2% a 0,3% anuales. El aumento del WPE permitió utilizar un ventilador interno más pequeño, reduciendo el peso de la pieza de mano en 150 g, lo que supuso un importante argumento de venta para los médicos.
La siguiente tabla resume las métricas de rendimiento de varias configuraciones basadas en la diodo láser de alta luminosidad normas.
| Serie de modelos | Emisores totales | Potencia pico (W) | Longitud de onda (nm) | Corriente de funcionamiento (A) | Ancho espectral (FWHM) |
| LD-S-808-Estándar | 10 Barras / 19 Emisores | 1000 | 808 ± 3 | 100 | < 4 nm |
| LD-S-940-Industrial | 12 Barras / 24 Emisores | 1500 | 940 ± 5 | 140 | < 5 nm |
| LD-S-1064-Médico | 6 Barras / 19 Emisores | 600 | 1064 ± 3 | 80 | < 4 nm |
| LD-HB-Alto Brillo | Módulo multiemisor | 200 (Fibra) | 976 ± 1 | 20 | < 1 nm (VBG) |
Nota: Todos los datos se han medido a una temperatura del agua de refrigeración de 25 °C.
La deriva de la longitud de onda está causada principalmente por un cambio en la temperatura de unión del chip semiconductor láser. En los diodos basados en GaAs, la deriva suele ser de 0,3 nm por grado Celsius. Una gestión térmica eficaz mediante el pila de diodos láser‘s sistema de refrigeración es la única manera de estabilizar la longitud de onda de salida.
En una barra estándar diodo láser multiemisor, Los emisores individuales no pueden repararse porque forman parte de una estructura monolítica de semiconductores. Sin embargo, si el fallo está en la microóptica externa, a veces ésta puede realinearse. Para aplicaciones de alta fiabilidad, es más rentable sustituir la barra o la pila.
La luminosidad determina cuánta potencia se puede exprimir en una fibra de un determinado diámetro y apertura numérica (NA). Una potencia alta con una luminosidad baja da como resultado un haz grande que no puede entrar en la fibra, lo que conlleva un desperdicio de energía y posibles daños en el revestimiento de la fibra.
AuSn es una soldadura dura que no se arrastra con el tiempo. Cuando se combina con un disipador de calor con CTE coincidente, bloquea el chip semiconductor láser en una orientación perfectamente plana. Esto garantiza que las lentes FAC puedan enfocar todos los emisores en un plano único y cohesionado.
Los principales indicadores son un aumento de la corriente umbral y una disminución de la eficiencia de la pendiente (mW/mA). Si observas que el sistema necesita más corriente para alcanzar la misma salida óptica, es probable que los chips estén experimentando degradación térmica u oxidación de las facetas.
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