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Fabricación de láseres de alta especificación de 638 nm/785 nm de ancho de línea estrecho

La termodinámica cuántica del ancho de banda espectral

En la búsqueda de una coherencia extrema, la actuación de un diodo láser de ancho de línea estrecho viene dictada por el teorema de Schawlow-Townes, que relaciona la anchura espectral con la densidad de fotones dentro de la cavidad óptica y el Tasa de emisión espontánea. Para un láser Fabry-Pérot (FP) estándar, el ancho de línea suele estar en el rango de varios cientos de gigahercios. Sin embargo, para aplicaciones como la interferometría o la espectroscopia de alta resolución, esta anchura debe suprimirse en varios órdenes de magnitud.

Conseguir un ancho de línea inferior a megahercios exige un cambio arquitectónico con respecto a las simples uniones de semiconductores. La física gira en torno al aumento del tiempo de vida de los fotones ($\tau_p$) dentro del resonador. Esto se consigue extendiendo la cavidad más allá del propio chip semiconductor, creando un Cavidad exterior Láser de diodo (ECDL) configuración. Introduciendo un elemento de frecuencia selectiva, como una rejilla de difracción o una rejilla de volumen de Bragg, los fabricantes pueden obligar al láser a oscilar en un único modo longitudinal. La precisión de esta selección de frecuencia es lo que define la transición de una fuente de luz genérica a un instrumento de calidad científica.

Dinámica de materiales: AlGaInP de 638 nm frente a AlGaAs de 785 nm

La ingeniería de un diodo láser de 638 nm y un 785nm diodo láser representa dos batallas distintas contra la degradación del material y la inestabilidad térmica. A 638 nm, el sistema material AlGaInP se ve afectado por un bajo confinamiento de portadores. Dado que el desplazamiento de banda entre el pozo cuántico y el revestimiento p es relativamente pequeño, los electrones escapan fácilmente de la región activa a medida que aumenta la temperatura. Este “desbordamiento de portadores” provoca un aumento masivo del Tasa de emisión espontánea fuera del modo deseado, lo que se manifiesta en un aumento del ruido espectral.

En cambio, el 785nm diodo láser, basado en AlGaAs, es un dispositivo de alta ganancia pero adolece de altas velocidades de recombinación superficial en las facetas. Esto lo hace especialmente susceptible de sufrir daños ópticos catastróficos (COD) cuando se le somete a altos niveles de potencia. Para lograr un láser de difracción limitada a 785 nm, la estructura epitaxial debe incluir “heteroestructuras de confinamiento separado de índice graduado” (GRINSCH). Este diseño garantiza que el campo óptico se extienda verticalmente, reduciendo la intensidad en la faceta y manteniendo al mismo tiempo un elevado solapamiento con el medio de ganancia. La estabilidad de esta interfaz es el principal factor de fiabilidad a largo plazo de los sistemas de espectroscopia Raman.

Alcanzar el límite de difracción: el papel de la geometría de la guía de ondas

A láser de difracción limitada se caracteriza por un factor $M^2$ cercano a 1,0, lo que significa que el haz sigue las leyes ideales de propagación de Gauss. En un láser semiconductor, La calidad del haz viene determinada por la geometría de la “guía de ondas de cresta” (RWG). La cresta debe ser lo suficientemente estrecha -normalmente entre 2,0 $\mu m$ y 3,5 $\mu m$- para garantizar que sólo pueda oscilar el modo transversal fundamental.

Sin embargo, a medida que se reduce la anchura de la cresta para conseguir un láser de difracción limitada perfil, el Resistencia térmica ($R_{th}$) del dispositivo aumenta. Esto crea una “isla de calor” localizada en la unión. Este calor induce un gradiente del índice de refracción, conocido como lente térmica, que puede distorsionar el frente de onda y hacer que el haz se desvíe del límite de difracción. Por tanto, el proceso de fabricación debe utilizar “litografía submicrónica” para garantizar que las paredes de la cresta sean perfectamente verticales y lisas. Cualquier rugosidad en las paredes laterales de la cresta actúa como centro de dispersión, aumentando la pérdida interna y ensanchando el ancho de línea.

El paquete mariposa: Un santuario de estabilidad térmica y mecánica

Para cualquier aplicación OEM de alta precisión, el diodo láser en envase de mariposa es el estándar de la industria por una razón. A diferencia de los encapsulados TO-can, el módulo de mariposa de 14 patillas está diseñado para aislar el chip láser del caótico entorno externo. El núcleo de este aislamiento es la integración de un refrigerador termoeléctrico (TEC) interno y un termistor NTC de alta sensibilidad.

El Resistencia térmica ($R_{th}$) de la unión a la caja es el parámetro más crítico en un diodo láser en envase de mariposa. Al montar el chip láser en un soporte de nitruro de aluminio (AlN) -que posee una alta conductividad térmica y un coeficiente de expansión térmica (CTE) similar al del chip láser-, el fabricante puede “drenar” eficazmente el calor de la región activa.

Además, el paquete mariposa permite la integración de un Láser de diodo de cavidad externa (ECDL) mediante un VBG. Esta rejilla se coloca dentro del cierre hermético, a escasas micras de la faceta del láser. Como el VBG está bloqueado térmicamente al mismo TEC que el chip láser, toda la salida espectral se vuelve inmune a las fluctuaciones de temperatura ambiente. Este nivel de integración es lo que permite 785nm diodo láser para mantener su frecuencia con una precisión de 0,005 nm durante miles de horas de funcionamiento.

Análisis de datos: Arquitectura del paquete y rendimiento espectral

La siguiente tabla resume las diferencias de rendimiento entre las distintas estrategias de envasado y estabilización de los diodos rojos y NIR. Estos datos ponen de relieve las métricas de “Calidad de los componentes” que influyen en el “Coste total del sistema.”

Parámetro638nm FP (TO-Can)638nm VBG (Mariposa)785nm FP (TO-Can)785nm VBG (Mariposa)
Ancho de línea (FWHM)~2,0 nm< 0,1 nm~1,5 nm< 0,05 nm
SMSR (dB)N/A> 40N/A> 45
Calidad del haz ($M^2$)1.3 – 1.5< 1.11.2 – 1.4< 1.1
$R_{th}$ (K/W)25 – 402 – 515 – 301 – 3
Desviación de la longitud de onda0,2 nm/K< 0,01 nm/K0,3 nm/K< 0,007 nm/K
Estabilidad de punteríaPobre< 5 $\mu rad/K$Moderado< 5 $\mu rad/K$

Estudio de caso: Interferometría subnanométrica para la metrología de semiconductores

Antecedentes del cliente:

Un importante fabricante de herramientas de inspección litográfica necesitaba un diodo láser de 638 nm de gran estabilidad para un interferómetro de medición de desplazamiento. El sistema debía medir la posición de una plataforma de oblea con una resolución de 0,5 nanómetros.

Retos técnicos:

La anterior fuente de 638 nm del cliente presentaba un elevado “ruido de fase”, lo que se traducía en fluctuaciones en la medición de la distancia. Además, el haz no estaba perfectamente limitado por difracción, lo que provocaba distorsiones del frente de onda cuando el haz recorría los brazos del interferómetro de largo recorrido. Esto obligaba a recalibrar con frecuencia toda la herramienta de metrología, lo que costaba al usuario final miles de dólares en tiempo de inactividad.

Parámetros técnicos y ajustes:

  • Longitud de onda central: 638 nm ± 0,5 nm.
  • Ancho de línea: < 10 MHz (ultraestrecho para una longitud de coherencia elevada).
  • Paquete: 14 polos diodo láser en envase de mariposa.
  • Salida de fibra: Fibra que mantiene la polarización (PM) con relación de extinción > 20dB.
  • Temperatura de funcionamiento: Bloqueado a 25°C ± 0,01°C.

Control de calidad y solución de ingeniería:

La solución fue un diodo láser de ancho de línea estrecho configurado como un láser de diodo de cavidad externa (ECDL) con un VBG bloqueado para 638 nm. Para conseguir el requisito de láser de difracción limitada, utilizamos un banco de alineación óptica automatizado para acoplar la luz a una fibra PM con una eficiencia de 75%.

El protocolo de control de calidad incluyó la “Caracterización del ruido de fase” mediante un interferómetro autoheterodino retardado. También realizamos una “Prueba de bloqueo de longitud de onda” de 48 horas en la que el diodo se sometió a oscilaciones de temperatura ambiente de 15°C a 45°C. El TEC integrado dentro del paquete de mariposa mantuvo la temperatura de unión interna con tanta precisión que el cambio de longitud de onda fue indetectable por el medidor de ondas de alta resolución del cliente.

Conclusión:

Con la actualización a la fuente de ancho de línea estrecho y empaquetada en forma de mariposa, la empresa de metrología consiguió una mejora de 4 veces en la estabilidad de las mediciones. La “fluctuación de fase” se redujo en 85%, lo que permitió una resolución de medición de 0,2nm. Mientras que el precio del diodo láser era significativamente superior a la solución TO-can anterior, el cliente eliminó la necesidad de llamadas mensuales al servicio técnico, lo que se tradujo en un ROI de 200% en el primer año.

El coste oculto de los diodos “económicos” en los sistemas OEM

Desde la perspectiva de un fabricante, el “precio” de un diodo suele ser un indicador de la “Profundidad de prueba”. A 785nm diodo láser que se vende sin un paquete de mariposa o estabilización VBG es esencialmente un componente sin terminar. Para el OEM, el “coste Iceberg” de un diodo barato incluye:

  1. Deriva térmica: Requiere complejos algoritmos de software para compensar los cambios de longitud de onda.
  2. Salto de modo: Provocando lagunas repentinas de datos en aplicaciones Raman o de detección.
  3. Astigmatismo del rayo: Necesidad de costosas microópticas externas para corregir la forma del haz.

Al invertir en un diodo láser en envase de mariposa con un láser de difracción limitada el OEM descarga al fabricante de la compleja ingeniería óptica y térmica. Esto permite al integrador de sistemas centrarse en su software principal y en la lógica de la aplicación, acortando significativamente el “Time-to-Market”.”

Preguntas frecuentes profesionales

P: ¿Qué relación existe entre la “longitud de coherencia” y el ancho de línea de un láser de 785 nm?

R: La longitud de coherencia ($L_c$) es inversamente proporcional al ancho de línea ($\Delta \nu$). Para un diodo láser de ancho de línea estrecho con un ancho de línea de 1 MHz, la longitud de coherencia puede superar los 100 metros. Esto es fundamental para la interferometría de largo alcance o la detección 3D. Un diodo FP estándar de 785 nm tiene una longitud de coherencia de sólo unos milímetros.

P: ¿Por qué es obligatoria la “soldadura dura” (AuSn) en los paquetes de mariposa?

R: La soldadura dura evita la “fluencia de la soldadura”. En un diodo láser con encapsulado de mariposa, la microóptica y el troquel láser están alineados con una precisión submicrónica. Si se utilizara una soldadura blanda como la de indio, los componentes se “desviarían” lentamente con el tiempo debido a los ciclos térmicos, destruyendo el perfil del haz láser limitado por difracción y la eficacia de acoplamiento de la fibra.

P: ¿Puedo modular un diodo láser de ancho de línea estrecho a altas velocidades?

R: Los láseres de cavidad externa (bloqueados por VBG) pueden modularse, pero la velocidad de modulación es limitada en comparación con un láser DFB. Para velocidades de gigahercios, se recomienda un modulador acústico-óptico (AOM) externo para evitar el “Frequency Chirp” durante el ciclo de modulación, que ampliaría el ancho de línea.

P: ¿Qué es la tasa de supresión de modo lateral (SMSR) y por qué es importante?

R: SMSR es la relación entre la potencia del modo longitudinal principal y el modo lateral más potente. En un diodo láser de 785 nm para espectroscopia Raman, un SMSR alto (>40 dB) es vital para garantizar que la señal Raman no se contamina con “picos fantasma” de modos láser secundarios.

El anterior: El siguiente:

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