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高功率半导体激光二极管工程指南

热力学前沿:大功率半导体结构物理学

发展 高功率半导体 激光已从简单的光产生过渡到极端能量密度的管理。要了解 高功率激光二极管, 因此,我们必须将目光从宏观封装转向 III-V 半导体晶体的外延生长。大功率运行从根本上受限于器件的内部效率,主要由注入效率 ($\eta_i$) 和内部损耗系数 ($\alpha_i$) 决定。随着电流密度的增加 激光二极管 载流子泄漏“,即电子从有源量子阱逃逸到包层中,从而大大降低了斜率效率并增加了废热。.

高级 高功率二极管激光器 通过 “无铝 ”有源区和分级指数分离约束异质结构 (GRINSCH) 来缓解这一问题。通过在包层中用磷化铟镓(InGaP)取代砷化镓铝(AlGaAs),制造商可以实现更低的表面重组速度和更高的热导率。这种材料转变直接影响到 壁插效率 (WPE), 即光输出功率与电输入功率之比。对于高性能 高功率激光二极管 模块,实现 60% 或更高的 WPE 是工业可靠性的基准,因为每一个百分点的低效率都会转化为必须管理的声子(热量)。.

热管理与焊料动力学:锑与铟之争

当操作 高功率激光二极管 在多瓦特级别,结温 ($T_j$) 成为光谱漂移和灾难性故障的主要驱动因素。从半导体结到外部散热器的热路径是一连串的接口,其中最关键的是 “芯片连接 ”焊料。传统上, 低功率激光二极管 由于铟(In)焊料具有延展性,可以吸收砷化镓(GaAs)芯片和铜散热器之间不同的热膨胀系数(CTE)所产生的机械应力,因此研究单位使用了铟焊料。.

然而,在 高功率二极管激光器, 铟容易发生 “热蠕变 ”和 “空化”。在数千小时的工作时间内,高电流密度和热循环会导致铟原子迁移,从而可能导致 “暗线缺陷(DLD)”,甚至使刻面短路。为确保工业级的使用寿命,需要采用顶级的 高功率半导体 制造商使用金锡 (AuSn) “硬焊料”。AuSn 可提供坚硬的高熔点粘接,抗蠕变。工程师需要注意的是,AuSn 需要与 CTE 匹配的子安装件,如氮化铝 (AlN) 或钨铜 (CuW),以防止芯片在焊接过程的冷却阶段开裂。这种材料的选择大大增加了 激光二极管价格 但对于任何要求平均无故障时间 (MTTF) 在 20,000 小时以上的系统来说,这是一个先决条件。.

光束质量和亮度缩放:BPP 约束

对于大功率应用而言,原始瓦数通常次于 “亮度”。亮度 $B$ 被定义为单位面积 $A$ 单位固角 $\Omega$ 的功率 $P$:

$$B = \frac{P}{A \cdot \Omega}$$

A 高功率半导体 激光棒由多个发射器组成。虽然总功率可达数百瓦,但 光束参数积 (BPP)-即光束腰和发散角的乘积,慢轴比快轴要大得多(差得多)。这种不对称性是光纤耦合的核心挑战。 高功率激光二极管 模块。.

为了弥补这一差距,我们使用快轴准直器(FAC)和慢轴准直器(SAC)等微光学器件对光束进行圆化。然而,直接二极管应用的最终极限是 “波长光束组合”(WBC)。通过使用衍射光栅将多个波长的光束重叠在一起。 高功率二极管激光器 通过使用波长略有不同的激光,系统可实现接近衍射极限的输出,功率可达千瓦。目前,在高端金属加工领域,这种技术正在取代 CO2 和光纤激光器,其系统级 WPE 几乎是传统激光源的两倍。.

失效机理与可靠性工程:COD 和 DLD

完整性 激光二极管 主要受两种内部故障机制的影响:灾难性光损伤 (COD) 和暗线缺陷 (DLD) 的传播。灾难性光损伤发生在光功率密度达到临界阈值($MW/cm^2$)的输出面。强磁场会导致局部吸收,在纳秒级的时间内熔化半导体面。为了避免这种情况,专业的 高功率半导体 工厂在超高真空环境中采用 “面钝化 ”技术。通过在裂解后立即沉积一层非吸收介质层,可提高 COD 临界值,从而允许 高功率激光二极管 以更高的电流驱动。.

另一方面,DLD 是晶格中的 “定时炸弹”。它们是在载流子重组和热应力影响下生长的位错。单个 “暗点 ”或 “暗线 ”会吸收光线,产生热量,并引发更多的位错生长,直至整个有源区失去功能。对于一个 高功率二极管激光器 因此,唯一的解决方案就是严格的外延质量控制和 “预烧 ”工艺。通过在升高的温度和电流下运行二极管 48-168 小时,在产品到达客户手中之前,就能剔除带有潜在 DLD 的 “婴儿死亡 ”单元。.

技术数据:高功率发射器的工作特性

下表说明了 9xx nm 波长砷化镓基发射器的关键技术参数,该波长通常用于泵浦和直接材料加工。.

参数单发射器(广域)激光棒(20% 填充系数)光纤耦合模块
中心波长(纳米)915 / 940 / 976976 / 980915 – 976
输出功率(瓦)10 – 3080 – 150200 – 500+
阈值电流 (A)0.5 – 1.212 – 201.0 – 1.5
斜坡效率(W/A)1.1 – 1.31.0 – 1.25 - 15(系统)
正向电压 (V)1.7 – 2.01.8 – 2.220 - 40(串行)
慢轴发散(95%)8° - 11°9° - 12°不适用(纤维 NA)
光谱宽度(FWHM,纳米)3 – 64 – 74 – 6
典型寿命(MTTF,小时)> 100,000> 20,000> 30,000

详细案例研究:电动汽车电池托架的大功率直接二极管焊接

客户背景:

中国一家一级电动汽车 (EV) 部件制造商需要一种高速焊接解决方案来焊接铝制 6061 电池托盘。传统的光纤激光器对铝的吸收率低,“飞溅 ”率高,导致结构连接薄弱。.

技术挑战:

铝对 1064nm 波长光的吸收率相对较低。此外,光纤激光器的高功率密度往往会 “穿透 ”材料太深,从而导致多孔。客户需要一种具有特定光束轮廓的高功率激光二极管系统,以形成稳定的熔池。所面临的挑战是保持 4 千瓦的连续波 (CW) 功率和较高的插墙效率 (WPE),以减少运行开销。.

技术参数和设置

  • 来源类型: 多个 高功率二极管激光器 通过 WBC 合并。.
  • 波长 976 纳米(通过 VBG 锁定在 ±0.5 纳米)。.
  • 输出功率 工件上的功率为 4 千瓦。.
  • 纤维直径: 400µm / 0.22NA。.
  • 冷却: 去离子水,温度 25°C,流速 15 升/分钟。.
  • 光学 集成的 “摇摆 ”头可摆动光束,以更好地控制熔池。.

质量控制 (QC) 解决方案:

激光二极管高功率堆栈是在氮化铝基底上使用金锡硬焊制造的,以确保在高速焊接过程中 “指向漂移 ”为零。每个堆栈都在 45°C 的外壳温度下进行了 120 小时的预烧。我们采用了实时 “背反射监控器”,以便在光从铝表面反射回激光腔时关闭系统,这是在高功率半导体系统中常见的故障原因。.

结论

直接高功率二极管激光系统的焊接速度比以前的光纤激光系统快 25%。由于 976nm 波长在铝中的吸收率略高,而且顶帽光束轮廓更加均匀,因此焊缝的 “气孔 ”减少了 60%。该系统使用 45% WPE 运行,每个工作站每年可为客户节省约 $12,000 的电费。该案例表明,对于有色金属加工,激光二极管高功率模块的高亮度和稳定性优于传统光源。.

战略采购:通过透明实现信任

搜索时 中国激光二极管工厂高功率半导体 合作伙伴,区别在于 “数据保真度”。可靠的制造商不仅会提供数据表,还会为每一个出厂的模块提供 LIV(光-电流-电压)图和光谱报告。.

对于 OEM 买家而言,目标是消除 “分档差异”。如果您的系统是为 976nm 泵设计的,那么由于热工程不良而漂移到 980nm 的二极管将导致泵效率损失 30%。因此,验证 “热阻抗 ”规格和 “无扭结 ”电流限制至关重要。可靠性不是一个营销术语,而是外延纯度和热机械工程的可测量结果。.

专业常见问题

问:高功率激光二极管 L-I 曲线中的 “Kink ”有何意义?

答:“扭结 ”代表空间模式的突然转变或频谱中的模式跳跃。这通常表明脊的横向指数导向已不足以抑制高阶模式,这通常是由于局部加热造成的。高质量的激光二极管高功率模块应在额定工作电流至少达到 120% 时保持无扭结。.

问:为什么通常使用 976nm 波长而不是 808nm 波长进行泵浦?

答:976 纳米是掺镱光纤激光器的吸收峰值。虽然 976nm 需要更严格的波长控制(通常需要 VBG),但它的 “量子缺陷 ”更小,这意味着与 808nm 泵浦相比,转换过程中以热量形式损失的能量更少。.

问:如何计算高功率二极管激光器的结温?

答:您可以使用公式 $T_j = T_{case} + (P_{elec} - P_{opt}\cdot R_{th}$.+ (P_{elec} - P_{opt}) \cdot R_{th}$。这里,$R_{th}$ 是制造商提供的热阻。如果 $R_{th}$ 为 $0.5 K/W$,而散热量为 $100W$,则结点温度将比外壳温度高 $50°C$。.

问:在大功率半导体制造中,什么是 “面混合”?

答:这是一种用于制造 “窗口激光 ”的工艺。通过局部改变刻面的晶体成分,使其变成高带隙材料,刻面对产生的光变得透明。这大大提高了 COD 临界值。.

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