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Precisión espectral en diodos láser de 520 nm, 488 nm y UV

La deformación cuántica y el espectro visible del nitruro III

El desarrollo de diodos láser de espectro visible de alto rendimiento representa uno de los logros más significativos de la física del estado sólido. Para un integrador OEM, seleccionar entre un Diodo láser de 520 nm, a Láser de 488 nm, o un diodo láser uv no es una simple elección de color, sino una selección de distintos retos epitaxiales. La industria de semiconductores clasifica estos dispositivos principalmente por sus sistemas de materiales: normalmente, nitruro de indio y galio (InGaN) para la gama de UV a verde y fosfuro de aluminio, galio e indio (AlGaInP) para la gama de rojo.

En el centro de la 520 nm es el desajuste reticular entre las capas activas de InGaN y el sustrato de GaN. Para empujar la emisión desde el azul “natural” del GaN hacia el verde de un láser 520 nm, la fracción molar de indio debe aumentarse hasta aproximadamente 20% a 25%. Esta elevada concentración de indio introduce una importante deformación por compresión. Esta deformación, unida a la estructura cristalina no centrosimétrica de la wurtzita del GaN, genera un enorme Campos internos inducidos por la polarización. Estos campos provocan una separación espacial de las funciones de onda de electrones y huecos -el efecto Stark de confinamiento cuántico (QCSE)- que reduce drásticamente la tasa de recombinación radiativa y aumenta la densidad de corriente umbral ($J_{th}$).

El láser de 488 nm: Un puente sobre el cian

El Láser de 488 nm sirve de puente crítico entre los diodos azules de 450 nm, de gran eficacia, y los diodos verdes de 520 nm, más difíciles. Durante décadas, los 488 nm fueron el dominio exclusivo de los láseres de gas de iones de argón, apreciados por la calidad de su haz pero odiados por su eficiencia de 0,01% y sus enormes necesidades de refrigeración. La transición a un semiconductor Láser de 488 nm requiere dominar las concentraciones intermedias de indio en las que el QCSE está presente pero es manejable.

Para un fabricante, la longitud de onda de 488 nm es particularmente sensible a las “Fluctuaciones de Indio”. Con esta concentración específica de indio, la aleación tiende a sufrir una separación de fases durante el proceso de crecimiento por deposición química orgánica de vapor metálico (MOCVD). Si los átomos de indio se agrupan, crean pozos de potencial localizados que amplían el espectro de emisión y aumentan el Coeficientes de recombinación Auger. Este mecanismo de pérdida no radiativa, en el que la energía de una recombinación electrón-hueco se transfiere a un tercer portador en lugar de a un fotón, es la razón principal por la que los cianodiodos de alta potencia requieren una gestión térmica superior para mantener un modo longitudinal estable.

Diodo láser UV: Física de facetas y retos del AlGaN

Pasando al régimen ultravioleta (UV), normalmente entre 375 nm y 405 nm, la física pasa de la gestión de la tensión a la gestión de la energía de los fotones. A diodo láser uv opera cerca de la banda prohibida fundamental del GaN. El principal obstáculo de ingeniería en este caso es el dopaje de tipo p. Al aumentar el contenido de aluminio (Al) para conseguir longitudes de onda más cortas (de 405 nm a 375 nm), aumenta la energía de activación del dopante magnesio (Mg). Esto provoca bajas concentraciones de agujeros, alta resistencia en serie y un calentamiento Joule excesivo.

Además, la faceta de salida de un diodo láser uv se somete a condiciones extremas. Los fotones UV tienen energía suficiente para facilitar la disociación del vapor de agua ambiental y los hidrocarburos, lo que provoca la deposición de material carbonoso en la faceta. Este “hollín óptico” aumenta la absorción, lo que desencadena un aumento localizado de la temperatura, acelerando aún más la oxidación del cristal semiconductor. Los diodos UV de gama alta deben utilizar un “revestimiento de la faceta UHV (vacío ultraalto)” y pilas dieléctricas especializadas (normalmente $Al_2O_3$ o $SiO_2$) para evitar daños ópticos catastróficos (COD).

El láser de 650 nm: AlGaInP y la fuga de portadores

El Láser de 650 nm representa la cumbre del sistema de materiales AlGaInP sobre sustratos de GaAs. A diferencia de los láseres verde y UV basados en GaN, el rojo Láser de 650 nm está limitado por el “confinamiento de portadores”. El desplazamiento de banda entre el pozo cuántico y las capas de revestimiento en AlGaInP es relativamente pequeño. A medida que el dispositivo se calienta, los electrones pueden “desbordar” fácilmente la región activa y escapar a la capa de revestimiento p.

Esta fuga de portadora es la razón por la que los diodos rojos presentan una temperatura característica ($T_0$) mucho más baja que los diodos azules o verdes. Para un comprador industrial, esto significa que un Láser de 650 nm debe diseñarse con una trayectoria térmica extremadamente eficiente. Incluso un aumento de 5 °C en la temperatura de la unión puede provocar una caída de 15% en la eficiencia de la pendiente. Para combatirlo, los fabricantes de precisión emplean estructuras de “barrera multicuántica” (MQB), una serie de finas capas que crean un filtro de interferencia para los electrones, aumentando así la altura efectiva de la barrera sin cambiar la composición del material.

Ingeniería para el dominio del modo eléctrico transversal (TE)

En todos estos diodos del espectro visible, lograr un alto Dominio del modo eléctrico transversal (TE) es esencial para aplicaciones que implican óptica sensible a la polarización, como las pantallas holográficas o la interferometría. Debido a la deformación por compresión en los pozos cuánticos de InGaN, se favorece la transición entre la banda de conducción y la banda de valencia “Heavy-Hole”, lo que naturalmente promueve la polarización TE.

Sin embargo, a medida que aumenta el contenido de indio para un Diodo láser de 520 nm, La estructura de la banda de valencia se vuelve compleja. Si la deformación no está perfectamente equilibrada, las bandas “Light-Hole” o “Crystal-Field Split-Off” pueden interferir, dando lugar a una degradación de la relación de extinción de polarización (PER). Una clase mundial Fábrica china de diodos láser debe realizar un mapeo de polarización riguroso para garantizar que la relación TE/TM supera 100:1, lo que garantiza la compatibilidad del componente con trenes ópticos de alta precisión.

Comparación técnica de los parámetros del espectro visible

En la tabla siguiente se detallan las características de rendimiento que determinan la electrónica de accionamiento y los requisitos de refrigeración de los diodos de distintas longitudes de onda.

ParámetroUV (375 nm)Cian (488 nm)Verde (520 nm)Rojo (650 nm)
Sistema de materialesAlGaN / GaNInGaN / GaNInGaN / GaNAlGaInP / GaAs
Típico $V_f$ (V)4.5 - 5.54.0 - 5.04.8 - 6.02.2 - 2.8
Eficacia de la pendiente (W/A)0.8 - 1.21.0 - 1.40.4 - 0.80.9 - 1.1
Máx $T_j$ (°C)801008560
Desplazamiento de la longitud de onda (nm/K)0.050.040.030.23
Divergencia del haz (FWHM)10° x 30°8° x 25°12° x 35°9° x 28°

Estudio de caso: Módulo ultraestable de longitud de onda múltiple para secuenciación de ADN

Antecedentes del cliente:

Una empresa de biotecnología especializada en secuenciación de próxima generación (NGS) necesitaba un motor de luz de alta potencia y múltiples longitudes de onda. El dispositivo debía proporcionar excitación láser a 488 nm (para colorantes FAM) y 520 nm (para colorantes HEX/VIC). El requisito fundamental era la “estabilidad de potencia de baja frecuencia” (fluctuación < 0,1% en 1 hora) y un haz perfectamente circularizado para maximizar el rendimiento en la celda de flujo.

Retos técnicos:

El principal problema era la “diafonía térmica”. El diodo de 520 nm, al ser el menos eficiente, generaba un calor considerable. Este calor provocaba un desplazamiento de la longitud de onda en el canal de 488 nm, lo que alejaba el pico de excitación del máximo de absorción del colorante, con la consiguiente pérdida de señal de fluorescencia. Además, el diodo láser uv utilizado para “limpiar” periódicamente las facetas de la celda de flujo provocaba la degradación por ozono de los adhesivos ópticos internos.

Parámetros técnicos y ajustes:

  • Canal 1: 488 nm (150 mW CW).
  • Canal 2: 520 nm (80 mW CW).
  • Canal 3: 375 nm (50 mW pulsado).
  • Co-linealidad del haz: < 0,5 mrad.
  • Ruido RMS: < 0,2% (10 Hz a 10 MHz).

Control de calidad y solución de ingeniería:

El equipo de ingeniería desarrolló un “Banco óptico térmicamente aislado”. El diodo láser de 520 nm se montó en un sub-TEC (refrigerador termoeléctrico) específico para desacoplar su carga térmica del resto del colector. Para el láser de 488 nm se instaló un circuito “Noise-Eater”, un modulador acústico-óptico (AOM) con un bucle de realimentación de alta velocidad para suprimir el ruido 1/f inherente a los diodos InGaN de alta potencia.

Para hacer frente a la degradación inducida por los rayos UV, la óptica interna pasó del montaje con base epoxi a la “Soldadura por reflujo de oro” y la “Soldadura láser”. Todo el módulo se selló herméticamente con una atmósfera de Ar/N2 para evitar el “efecto hollín” en el diodo láser uv faceta.

Conclusión:

El módulo diseñado a medida mejoró 5 veces la precisión de la secuenciación de datos genómicos de lectura larga. Al trasladar la fuente láser de 520 nm a una plataforma estabilizada activamente, el cliente eliminó la necesidad de “Normalización de señal” basada en software, lo que redujo significativamente la sobrecarga de procesamiento de datos. Este estudio de caso demuestra que, para aplicaciones médicas de alto riesgo, el precio del diodo láser es irrelevante en comparación con el coste de la integridad de los datos.

Evaluación de la integridad de la fabricación en el espectro visible

Para un responsable de adquisiciones, distinguir entre un producto “de consumo” y uno “industrial” es una tarea compleja.” Fábrica china de diodos láser consiste en observar la caracterización de la “intensidad de campo cercano” (NFI). Un diodo visible de alta calidad debe tener un perfil NFI suave y gaussiano. Cualquier “filamentación” o punto oscuro en la NFI indica una distribución no uniforme del indio o defectos cristalinos localizados. Estos filamentos suelen ser los causantes de fallos prematuros, ya que actúan como “acaparadores de corriente” locales que se sobrecalientan y provocan la fusión de las facetas.

La fiabilidad en el espectro visible también depende de la profundidad de “quemado”. Los diodos estándar pueden someterse a un "burn-in" de 24 horas. Sin embargo, para un diodo láser uv o una alta potencia 520 nm de 168 horas de “vida útil a alta temperatura” (HTOL) es la norma de referencia del sector. De este modo se identifican las unidades de “mortalidad infantil” que poseen dislocaciones latentes que solo empiezan a moverse bajo el estrés combinado de la alta temperatura y la alta densidad de fotones.

Preguntas frecuentes profesionales

P: ¿Por qué la corriente umbral ($I_{th}$) de un diodo láser de 520 nm es mucho mayor que la de un diodo azul de 450 nm?

R: Esto se debe principalmente al efecto Stark de confinamiento cuántico (QCSE). A 520 nm, el mayor contenido de indio crea campos eléctricos internos más fuertes que atraen a los electrones y los huecos hacia lados opuestos del pozo cuántico. Esta separación física reduce la “Integral de solapamiento”, lo que significa que se necesita más corriente para conseguir la ganancia necesaria para el láser.

P: ¿Puedo utilizar un diodo láser de 650 nm sin refrigeración activa?

R: Para aplicaciones de puntero de baja potencia (5-10 mW), la refrigeración pasiva es suficiente. Sin embargo, para la detección industrial o la terapia médica, donde el diodo funciona a 100 mW+, es obligatoria la refrigeración activa o un disipador de calor muy grande. El elevado desplazamiento de la longitud de onda (0,23 nm/K) significa que, sin control de la temperatura, el haz se desviará rápidamente de la ventana espectral requerida.

P: ¿Cuál es la ventaja de un diodo láser de 488 nm frente a un láser DPSS de 473 nm?

R: El diodo es mucho más compacto, tiene una velocidad de modulación mucho mayor (hasta varios GHz) y consume 90% menos energía. Además, el diodo de 488 nm es un “emisor directo”, lo que significa que carece de los complejos cristales no lineales y las cavidades sensibles a la alineación de los láseres DPSS, por lo que es mucho más robusto para diagnósticos portátiles.

P: ¿La “pasivación de facetas” es la misma para los diodos UV y rojos?

R: No. Los diodos rojos (AlGaInP) requieren principalmente protección contra la oxidación y la fuga de portadores en la superficie. Los diodos UV requieren revestimientos “resistentes a la solarización” que puedan soportar la elevada energía de los fotones sin oscurecerse ni sufrir cambios fotoquímicos.

El anterior: El siguiente:

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